透射光譜與ATR的區(qū)別在于:透射光譜中光束是穿透整個(gè)樣品,樣品厚度大的話紅外光有可能不能穿透樣品,因此對(duì)于透射譜來(lái)說(shuō),樣品必須稀釋在紅外透明的鹽中,即固體樣品必須先進(jìn)行壓片,而且光束的有效光程是由樣品的厚度以及光束的方向決定的。而ATR測(cè)試很簡(jiǎn)單,只需將樣品放在ATR晶體上,加壓便能獲得完美的譜圖。
我們以單次反射的ATR來(lái)說(shuō)明ATR是如何工作的:當(dāng)紅外光束進(jìn)入折光指數(shù)較高的晶體中紅外光束從晶體表面反射回來(lái),但同時(shí)在樣品中有一個(gè)衰減波區(qū)域,這部分紅外光束有部分被樣品吸收而反射出來(lái)到達(dá)檢測(cè)器獲得樣品紅外光譜的信息。
ATR譜圖的影響因素:
1. ATR晶體和樣品的折光指數(shù);
2. 紅外光的入射角;
3. 紅外光進(jìn)入樣品的深度;
4. 紅外光的波長(zhǎng);
5. 反射次數(shù);
6. 樣品與晶體接觸的程度。
紅外光侵入樣品的深度與樣品的折射率n2、晶體的折射率n1、入射角θ、以及紅外波長(zhǎng)λ 有關(guān),見(jiàn)下面的公式:
有關(guān)ATR的理論知識(shí),可以參閱:ATR是如何工作的?
另外樣品與晶體的接觸是至關(guān)重要的,它直接影響ATR譜圖的質(zhì)量;對(duì)于液體樣品來(lái)說(shuō),樣品與晶體的接觸沒(méi)有任何問(wèn)題,但是對(duì)于固體樣品來(lái)說(shuō),固體樣品與晶體接觸的緊密程度越高,信號(hào)就越強(qiáng)。這樣ATR可以做透射譜根本無(wú)法做的樣品,下圖是黑色電纜的ATR譜圖:
壓力對(duì)測(cè)試的重復(fù)性的影響如下:
壓力對(duì)測(cè)試靈敏度的影響如下:
ATR附件有很多,比較著名的是Specac的Golden Gate ATR,目前沒(méi)有比Golden Gate性能更好的ATR問(wèn)世。Specac的ATR附件有: